长期供应 大量现货AVAGO HCPL-7721-000E主营：AVAGO40 ns的传播延迟，CMOS光耦合器

HCPL-7721-000E   产品描述

40 ns的传播延迟，CMOS光耦合器

可靠性数据显示包括Avago Technologies（安华高科技）的资格，该产品系列的可靠性试验数据。所有这些产品都使用相同的LED，类似IC，并在相同的包装材料，过程，压力条件和测试。表1和表2中的数据反映了每个通道的基础上的设备的实际测试数据。应力之前，所有的设备都使用了回流焊过程（260℃，5秒。2X）和20的温度预处理
循环（-55°C至+125°C，15分钟的停留时间，5分钟传输）。这些数据均取自Avago Technologies（安华高科技）Avago Technologies（安华高科技）内部过程，材料规格，设计，标准，统计过程控制设备的测试。他们没有转移到其他厂商的类似部件类型。
工作寿命测试
对于有效的系统的可靠性的计算，它是必要的调整时间，当系统未处于操作。请注意，如果您使用的是MIL-HDBK-217元件的可靠性的预测，结果可能不具有可比性由于不同的条件和因素，已经占到了MIL-HDBK-217表2中给出。例如，你的申请将行使所有可用的频道在全额定功率与LED（S）总是ON Avago Technologies（安华高科技）的测试是不可能的。因此，您的应用程序的总功率和占空比必须仔细考虑表2的预测进行比较时，
采用MIL-HDBK-217。
定义失败
无法切换，即“功能故障”，是定义
本数据表中的失败。具体而言，发生故障时，该设备不与2倍的最低推荐的驱动电流（但不超过最大额定）或失败切换OFF切换ON当没有输入电流。
故障率预测
证明点测量到故障时间（MTTF）在绝对最大应力状态。在表2中使用的故障率预测的Arrhenius加速
的关系，在混合部分的MIL-HDBK-217被用作在0.43eV的激活能。
应用信息
表1和表2中的数据的设备上获得的高温工作寿命的持续时间可以达到1000小时。假定一个指数（随机）的故障分布，表示在单位FIT（每十亿的移动设备小时的故障），只在随机故障部的可靠性曲线定义。
 

 
特点
5 V的CMOS兼容性
最大为20 ns。提案延迟歪斜
高速：25万桶
40 ns最大值。提案延迟
10千伏/最小共模抑制
-40°C至85°C温度。范围
安全和法规认证：
UL认证：1分钟3750 V rms的。每包括UL1577
CSA元件验收通知＃5
符合IEC / EN/ DIN标准EN60747-5-2 VIORM股权060= 630 V峰值
可用的选项是：
060=符合IEC / EN / DIN EN60747-5-2股权
300 =鸥翼表面贴装选项
500 =带和卷轴包装选项
XXXE=无铅期权
应用
数字现场总线隔离：CC-Link的，的DeviceNet，PROFIBUS，SDS
交流等离子体显示器的电平转换
复用的数据传输
计算机外围设备接口
微处理器系统接口